在選擇手持式便攜式涂層測(cè)厚儀時(shí)，錯(cuò)誤的儀器選擇可能會(huì)導(dǎo)致測(cè)量失敗(例如，無(wú)法獲得數(shù)值)或完全錯(cuò)誤的結(jié)果。即使使用不正確的測(cè)量?jī)x獲得錯(cuò)誤讀數(shù)，也有很高的風(fēng)險(xiǎn)假設(shè)它是準(zhǔn)確的。

　　上述因素增加了未能滿足所需涂層厚度規(guī)格的機(jī)會(huì)。其后果可能導(dǎo)致因客戶不滿意而增加返工或失去合同的成本，本文首次探討了影響為特定應(yīng)用選擇最合適測(cè)量?jī)x的因素，并確保測(cè)量結(jié)果完全代表實(shí)際涂層厚度。

影響因素

　　在選擇合適的涂層測(cè)厚儀時(shí)，必須考慮幾個(gè)關(guān)鍵因素。他們每個(gè)人都將確定需要什么類(lèi)型的儀器和測(cè)量探頭。

涂層的物理狀態(tài)

　　最初，對(duì)于液態(tài)或所謂的“未固化狀態(tài)”的涂層，傳統(tǒng)的干膜厚度測(cè)量?jī)x無(wú)法工作。對(duì)于此類(lèi)應(yīng)用，需要非接觸式粉末涂層測(cè)厚儀。它們通過(guò)將探頭放置在距測(cè)量表面的校準(zhǔn)距離處來(lái)發(fā)揮作用，并使用超聲波測(cè)量原理獲得讀數(shù)。這種方法僅限于粉末涂料應(yīng)用，需要在最終固化階段之前預(yù)測(cè)厚度。一旦知道深度，就有可能減少粉末消耗，從而實(shí)現(xiàn)更精簡(jiǎn)的涂層應(yīng)用工藝，并具有經(jīng)濟(jì)和生態(tài)優(yōu)勢(shì)。

　　然而，由于涂層處于穩(wěn)定(固化)狀態(tài)，干膜厚度測(cè)量?jī)x是這些應(yīng)用的理想儀器。它們還對(duì)層進(jìn)行非破壞性測(cè)試，并涵蓋范圍廣泛的應(yīng)用。在這種情況下，需要將測(cè)量探針應(yīng)用于表面以進(jìn)行讀數(shù)。

涂層和基材

　　測(cè)量?jī)x使用磁感應(yīng)或渦流測(cè)量方法工作。這些技術(shù)之間的主要區(qū)別在于，第一種技術(shù)測(cè)量鐵 (Fe) 上的涂層厚度，而后者測(cè)量有色金屬 (NFe) 基材上的涂層厚度。一些量規(guī)將這兩種原理合二為一，以涵蓋所有可能的基礎(chǔ)材料。工作原理 見(jiàn)圖1和圖2。

　　磁感應(yīng)測(cè)量方法通過(guò)產(chǎn)生由勵(lì)磁電流 I~ 產(chǎn)生的低頻磁場(chǎng)來(lái)工作。測(cè)量線圈μ測(cè)量產(chǎn)生的磁場(chǎng)。

　　渦流測(cè)試方法(幅度敏感)根據(jù) ISO 2360 和 ASTM 7091 標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)量。用勵(lì)磁電流感應(yīng)纏繞在鐵氧體磁芯上的線圈。它產(chǎn)生一個(gè)高頻磁場(chǎng)，在垂直于磁場(chǎng)的平面上將電流回路發(fā)送到基材中。同一個(gè)線圈測(cè)量產(chǎn)生的磁場(chǎng)。

　　在這兩種方法中，測(cè)量線圈都會(huì)向儀器發(fā)送信號(hào)，儀器將其轉(zhuǎn)換為我們可以理解的數(shù)字單位，例如微米或密耳。如果涂層具有與基材相同的化學(xué)成分，則測(cè)量探針無(wú)法識(shí)別差異。因此，必須了解涂層由什么材料組成，以及它是否可以使用測(cè)厚儀在特定的基材上進(jìn)行測(cè)量。